THICK800A凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL? 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。

磁性材料镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

镀银镀层测厚度仪是款快速、无损、操作简单的镀层厚度检测仪，银属于贵金属元素镀厚了造成企业产品的成本增加， 镀薄了造成产品不合格客户退货，的控制银层的厚度至关重要，天瑞仪器生产Thick800A 镀银厚度检测仪同时可以检测镀金、镀镍、镀锌、镀铬、镀镍等金属镀层厚度，电脑操作，基本实现了智能化。

电路板镀层测厚仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由个入射狭缝，个色散系统，个成像系统和个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某波段）进行强度测定。

电路板镀层测厚仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由个入射狭缝，个色散系统，个成像系统和个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某波段）进行强度测定。