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Thick800A光谱型膜厚测试仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

x荧光膜厚测量仪采用上照式硅漂移SDD探测器配置，既满足各种金属膜厚测量，也适用各种形状规则的样品。江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产x荧光无损膜厚测量仪，解决电镀厚度测试。黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。

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