产品简介

x荧光膜厚测量仪采用上照式硅漂移SDD探测器配置，既满足各种金属膜厚测量，也适用各种形状规则的样品。江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产x荧光无损膜厚测量仪，解决电镀厚度测试。黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。

x荧光膜厚测量仪采用上照式硅漂移SDD探测器配置，既满足各种金属膜厚测量，也适用各种形状规则的样品。江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产x荧光无损膜厚测量仪，解决电镀厚度测试。黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。天瑞仪器是金属镀层测厚仪三之，另外两个品牌分部是费希尔和牛津。天瑞的thick800a是性价比的金属测厚仪，能够φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，技术指标
样品测试谱图，高清，谱线明显。：

厂家介绍

X荧光测厚仪生产生产厂家——江苏天瑞仪器股份有限公司，新款Thick 8000X荧光测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型镀层膜厚测试仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层分析仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、XRF镀层测厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。功能：精密测量金属电镀层的厚度；应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成。

测量范围从22(Ti)到92(U);5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅