产品简介

无损镀层测厚仪对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析，满足半导体、芯片及PCB，电镀行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。

无损镀层测厚仪EDX2000A

无损镀层测厚仪EDX2000A 全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。

无损镀层测厚仪EDX2000A 应用领域

电镀行业  汽车行业  卫浴五金   磁性材料  电器设备  贵金属电镀   高校科研

无损镀层测厚仪EDX2000A  技术参数

无损镀层测厚仪EDX2000A 性能优势

可靠性高：

由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。

满足不同需求：

测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能*，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种*分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

快速：

20秒就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

无损：

测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：

实时谱图，可直观显示产品测试点

简易：

对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

性价比高：

相比其他类类仪器，X光测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和接受。

无损镀层测厚仪EDX2000A 性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护

无损镀层测厚仪EDX2000A  配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机