产品简介

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               电镀镀层测厚仪EDX2000A

电镀镀层测厚仪EDX2000A 是集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测 厚仪。不仅能精准测量各种常规形状的镀层产品，而且对于各种不易测量的异型件也可以测试。可广 泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

电镀镀层测厚仪EDX2000A 硬件配置

高功率高压单元搭配微焦斑的X光管,极大的保证了信号输出的效率与稳定性。
EDX2000A能将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上,EDX2000A也有着很大的优势,它可以选配的准直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让更小样品的测量也变得游刃有余。

电镀镀层测厚仪EDX2000A 产品功能:

1. 专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。

2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

3. 微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。

4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

5. 镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。

设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安高于标GBZ115-2002要求。

7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录同时自动添加测试人的登录名称。

电镀镀层测厚仪EDX2000A 产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：145eV

高压范围：0-50Kv，50W

X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：专用3种自动切换；

CCD观察：260万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

电镀镀层测厚仪EDX2000A 设计亮点