测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII、Elite、天瑞、华为计量等)，本公司有多种品牌，规格齐，可批发零售，欢迎。

天瑞镀层测厚仪器Thick800A是款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，与普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系统集合内外几十年EDXRF技术，核心部件采用美进口，软件算法采用美EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有三方检测机构；采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更，更稳定。

产镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

天瑞镀层厚度测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

X光电镀膜厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能,而且价钱同比其他牌子相同配置的机器，THICK800A为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果甚至是多层镀层的样品也样能胜任。

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。