产品说明、技术参数及配置 EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。

X荧光镀层膜厚仪主要应用于金属镀层膜厚的检测，镀金、镀镍、镀锌、镀银等，天瑞仪器是生产X荧光镀层膜厚仪的厂家，分析仪器上市企业，Thick8000是目前公司达的款，有着的三维移动平台，清晰的样品观测系统，内品牌。

Thick8000镀层膜厚测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

X荧光镀层测厚仪主要应用于金属镀层膜厚的检测，镀金、镀镍、镀锌、镀银等，天瑞仪器是生产X荧光镀层膜厚仪的厂家，分析仪器上市企业，Thick8000是目前公司达的款，有着的三维移动平台，清晰的样品观测系统，内品牌。

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

EDX1800B测厚仪采用下照式结构，仪器操作简单，测试，售后服务及时。